cover
Critical Dimension Bimodality Both Within Wafer and Within Die
Share
Aggarwal, GaganBhat, Talapady SrivatsaYerubandi, GaneshBolton, David

With reduction in the die sizes it is very critical to control the Critical Dimension (CD) within a very precise window. In this work we present a root cause analysis and solution to a bimodal CD d…


Hasil Pencarian

Ditemukan 1 dari pencarian Anda melalui kata kunci: Pengarang : "Bolton, David"
Permintaan membutuhkan 0,55911 detik untuk selesai
Saran
image
Peran target costing dalam meningkatkan efisiensi biaya produksi dan mencapai tingkat laba yang diinginkan perusahaan
Ariawati, Ria Ratna - Slesthio, Yohanes
image
Organizational design and the intensity of rivalry
Vroom, Govert
image
Automated Configuration of Genetic Algorithms by Tuning for Anytime Performance
Wang, Hao - Back, Thomas - Doerr, Carola - Ye, Furong
image
Fast Updating Algorithms for Latent Semantic Indexing
Saad, Yousef - Vecharynski, Eugen
image
Pengaturan tindak pidana penghinaan terhadap pemerintah dan penghinaan terhadap martabat Presiden atau Wakil Presiden dalam Rancangan Kitab Undang-Undang Hukum Pidana yang berpotensi mengancam hak kebebasan berpendapat dikaitkan dengan asas lex certa dan putusan Mahkamah Konstitusi yang berkaitan
Prastowo, Robertus Bambang Budi - Purba, Jonatan