Metrology challenges for 45-nm strained-Si device technology | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Metrology challenges for 45-nm strained-Si device technology

Vartanian, Victor [et al.] - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art22236	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING;Vol.19 No.4 November 2006
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.381-390
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Victor Vartanian [et al.]

Tidak tersedia versi lain

Tidak Ada Data