Watermark-induced high-density via failures in Submicron CMOS Fabrication (may 2006) | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Watermark-induced high-density via failures in Submicron CMOS Fabrication (may 2006)

Alex, Chew - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art27202	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Judul Seri: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing;Vol.20 Nol.3 August 2007
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.195-200
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Alex Chew, Hing Ho Au, S.H. Han, T.L. Neo, Jackson Tan, K.W. Chai, Samuel Chua

Tidak tersedia versi lain

Tidak Ada Data