Approach for a standardized Methodology for multisite processing of 300-mm wafers at R D sites | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Approach for a standardized Methodology for multisite processing of 300-mm wafers at R D sites

Oechsner, Richard [et al.] - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art27205	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Judul Seri: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing;Vol.20 No.3 August 2007
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.215-221
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Richard Oechsner [et.al]

Tidak tersedia versi lain

Tidak Ada Data