A model-based clustering approach to the recognition of the spatial defect patterns produced during semiconductor fabrication | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

A model-based clustering approach to the recognition of the spatial defect patterns produced during semiconductor fabrication

Yuan, Tao - Nama Orang; Kuo, Way - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art42860	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IIE TRANSACTIONS;Vol.40 No.2 February 2008
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.93-101
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Tao Yuan, Way Kuo

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar