Cross-bridge kelvin resistor structure for reliable measurement of low contact resistances and contact interface characterization | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Cross-bridge kelvin resistor structure for reliable measurement of low contact resistances and contact interface characterization

Stavitski, Natalie - Nama Orang; Klootwijk, Johan H - Nama Orang; Wolters, Rob A.M - Nama Orang; Zeijl, Henk w. van - Nama Orang; Kovalgin, Alexey - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art47266	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTION ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING;Vol.22 No.1 February 2009
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.146-152
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Natalie Stavitski...[et al.]

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar