Accurate conjunction of yield models for fault-tolerant memory integrated circuits | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Accurate conjunction of yield models for fault-tolerant memory integrated circuits

Chunghun, Ha - Nama Orang; Kuo, Way - Nama Orang; Hwang, Yoon - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art47275	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTION ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING;Vol.22 No.3 August 2009
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.344-350
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Chunghun Ha, Way Kuo, Jung Yoon Hwang

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar