Correlation of scattering loss, sidewall roughness and waveguide width in silicon-on-insulator (SOI) ridge waveguides | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Correlation of scattering loss, sidewall roughness and waveguide width in silicon-on-insulator (SOI) ridge waveguides

Yap, Kuan Pei - Nama Orang; Delage, Andre - Nama Orang; Lapointe, Jean - Nama Orang; Janz, Siegfried - Nama Orang; Lamontagne, Boris - Nama Orang; Schmid, Jens H - Nama Orang; Waldron, Philip - Nama Orang; Syrett, Barry A - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art47641	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY;Vol.27 No.18 September 15 2009
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.3999-4008
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Kuan Pei Yap...[et al.]

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar