No image available for this title

Text

Bayesian analysis of hazard rate, change point, and cost-optimal burn-in time for electronic devices

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan
Barcode Tipe Koleksi Nomor Panggil Lokasi Status
art53880nullArtikelGdg9-Lt3Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan
Informasi Detail
Judul Seri
No. Panggil
-
Penerbit
: .,
Deskripsi Fisik
p.132-138
Bahasa
English
ISBN/ISSN
-
Klasifikasi
-
Tipe Isi
-
Tipe Media
-
Tipe Pembawa
-
Edisi
-
Subjek
-
Info Detail Spesifik
-
Pernyataan Tanggungjawab
Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas
Tidak Ada Data
Komentar
Anda harus masuk sebelum memberikan komentar