Defect Gallery and Bump Defect Reduction in the Self-Aligned Double Patterning Module | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Defect Gallery and Bump Defect Reduction in the Self-Aligned Double Patterning Module

Cai, Cathy - Nama Orang; Padhi, Deenesh - Nama Orang; Seamons, Martin - Nama Orang; Bencher, Chris - Nama Orang; Ngai, Chris - Nama Orang; Kim, Bok Heon - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art62384	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING;Vol.24 No.2 May 2011
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.145-150
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Cathy Cai...[et al.]

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar