Fast and Accurate Characterization of MOS and Interconnect Capacitance Using Direct Charge Measurement (DCM) | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Fast and Accurate Characterization of MOS and Interconnect Capacitance Using Direct Charge Measurement (DCM)

Goto, Masaharu - Nama Orang; Miyake, Yasuhiro - Nama Orang; Taniguchi, Jun - Nama Orang; Takano, Kenichi - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art86291	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing; Vol.26 No.3 August 2013
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.262-272
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Masaharu Goto, Yasuhiro Miyake, Jun Taniguchi, Kenichi Takano

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar