Use of 22 nm Litho SEM Non-Visual Defect Data as a Process Quality Indicator | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Use of 22 nm Litho SEM Non-Visual Defect Data as a Process Quality Indicator

Boye, Carol A. - Nama Orang; Knupp, Seth - Nama Orang; Ghaskadvi, Rajesh - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art87984	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING; Vol.26 No.4 November 2013
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.482-487
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Carol A. Boye, Seth Knupp, Rajesh Ghaskadvi

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar