Waveguide-Based Technique for Wafer-Level Measurement of Phase and Group Effective Refractive Indices | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Waveguide-Based Technique for Wafer-Level Measurement of Phase and Group Effective Refractive Indices

Melati, Daniele - Nama Orang; Melloni, Andrea - Nama Orang; Alippi, Andrea - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art107675	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY;Vol.34 No.4 FEBRUARY 2016
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p. 1293-1299
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: GROUP INDEX
WAVEGUIDE
EFFECTIVE INDEX
PHOTONIC DEVICES
PROCESS QUALIFICATION
ON-WAFER CHARACTERIZATION
TEST-ON-WAFER
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Daniele Melati, Andrea Alippi, Andrea Melloni

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar