Statistical Analysis and Modeling of Random Telegraph Noise Based on Gate Delay Measurement | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Statistical Analysis and Modeling of Random Telegraph Noise Based on Gate Delay Measurement

Islam, A. K. M. Mahfuzul - Nama Orang; Nakai, Tatsuya - Nama Orang; Onodera, Hidetoshi - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art123302	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING; Vol.30 No.3 August 2017
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p. 216-226
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: VARIATION
INTEGRATED CIRCUIT
MOSFET
RANDOM TELEGRAPH NOISE
RCONFIGURABLE RING OSCILLATOR
DIGITAL CIRCUIT
THRESHOLD VOLTAGE
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: A. K. M. Mahfuzul Islam, Tatsuya Nakai, Hidetoshi Onodera

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar