Deep-Structured Machine Learning Model for the Recognition of Mixed-Defect Patterns in Semiconductor Fabrication Processes | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Deep-Structured Machine Learning Model for the Recognition of Mixed-Defect Patterns in Semiconductor Fabrication Processes

Tello, Ghalia - Nama Orang; Al-Jarrah, Omar Y. - Nama Orang; Yoo, Paul D. - Nama Orang; Al-Hammadi, Yousof - Nama Orang; Muhaidat, Sami - Nama Orang; Uihyoung Lee - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art125755	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING; Vol.31 No.2 May 2018
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p. 315-322
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: MACHINE LEARNING
BENTUK GALAKSI
PATTERN RECOGNITION
SEMICONDUCTOR WAFER DEFECT DETECTION
MIXED DEFECT PATTERNS
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Ghalia Tello, Omar Y. Al-Jarrah, Paul D. Yoo, Yousof Al-Hammadi, Sami Muhaidat, Uihyoung Lee

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar