Anomaly Detection and Segmentation for Wafer Defect Patterns Using Deep Convolutional Encoder-Decoder Neural Network Architectures in Semiconductor Manufactoring | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Anomaly Detection and Segmentation for Wafer Defect Patterns Using Deep Convolutional Encoder-Decoder Neural Network Architectures in Semiconductor Manufactoring

Takeshi Nakazawa - Nama Orang; Kulkarni, Deepak V. - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art131083	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING; Vol.32 No.2 May 2019
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p. 250-256
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: DECODER
SEGMENTATION
CONVOLUTIONAL NEURAL NETWORKS
ANOMALY DETECTION
SEMICONDUCTOR DEFECTS
DEEP LEARNING ENCODER
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Takeshi Nakazawa, Deepak V. Kulkarni

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar