A Novel DBSCAN-Based Defect Pattern Detection and Classification Framework for Wafer Bin Map | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

A Novel DBSCAN-Based Defect Pattern Detection and Classification Framework for Wafer Bin Map

Cheng Hao Jin - Nama Orang; Hyuk Jun Na - Nama Orang; Minghao Piao - Nama Orang; Gouchol Pok - Nama Orang; Keun Ho Ryu - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art131134	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING; Vol. 32 No.3 August 2019
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p. 286-292
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: CLUSTERING
WAFER BIN MAP
DEFECT PATTERN DETECTION
DEFECT PATTERN CLASSIFICATION
RATIO
DBSCAN
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Cheng Hao Jin, Hyuk Jun Na, Minghao Piao, Gouchol Pok, Keun Ho Ryu

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar