Photoluminescence Imaging for Buried Defects Detection in Silicon: Assessment and Use-Cases | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Photoluminescence Imaging for Buried Defects Detection in Silicon: Assessment and Use-Cases

Duru, Romain - Nama Orang; Cunft, Delphine Le - Nama Orang; Cannac, Maxime - Nama Orang; Mica, Isabella - Nama Orang; Baruchel, Jose - Nama Orang; Tran-Thi, Thu-Nhi - Nama Orang; Bremond, Georges - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art131262	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING; Vol.32 No.1 February 2019
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p. 23-30
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: BURIED DEFECTS
DISLOCATIONS
NON-VISUAL DEFECTS
PHOTOLUMINESCENCE IMAGING
PHOTOLUMINESCENCE SPECTROSCOPY
X-RAY DIFFRACTION TOPOGRAPHY
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Romain Duru, Delphine Le Cunft, Maxime Cannac, Isabella Mica, Jose Baruchel, Thu-Nhi Tran-Thi, and Georges Bremond

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar