Fault Detection Strategy Based on Weighted Distance of K Nearest Neighbors for Semiconduktor Manufacturing Processes | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

Fault Detection Strategy Based on Weighted Distance of K Nearest Neighbors for Semiconduktor Manufacturing Processes

Cheng Zhang - Nama Orang; Xianwen Gao - Nama Orang; Yuan Li - Nama Orang; Liwei Feng - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art131294	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING; Vol.32 No.1 February 2019
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p. 75-82
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: FAULT DETECTION
K-NEAREST NEIGHBORS
BATCH PROCESSES
MULTIMODE PROCESSES
WEIGHTED PARAMETER
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Cheng Zhang, Xianwen Gao, Yuan Li, and Liwei Feng

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar