Text

Pengembangan karakteristik komponen optik dan bahan optik dengan teknik interferometrik

Karakteristik optik bahan, khususnya kristal dapat ditelaah melalui sifat sumbu optiknya, yakni kristal uniaksial dan kristal biaksial. Akibatnya terdapat perbedaan indeks bias untuk komponen gelombang yang berbeda dalam perambatannya di dalam kristal. Perbedaan tersebut dapat dideteksi melalui penyinaran bahan dengan sinar laser, sementara bahan kristal diberi gangguan medan luar berupa medan listrik yang
diosilasikan. Jika dua jenis kristal yang berbeda indeks biasnya diperlakukan seperti di atas maka dapat ditentukan indeks bias salah satu kristal jika indeks bias kristal lainya diketahui. Hal ini secara mikroskopik teIjadi akibat adanya· pergeseran fase gelombang sinar laser di dalam kristal.lah satunya telah diketahui, dengan menggunakan interferometer Mach-Zehnder. Perhitungan indeks bias hanya dapat
dilakukan apabila telah diperoleh atau diketahui nilai koefisien elektrooptik linear kristal bersangkutan. Eksperimen dengan interferometer Mach_Zehnder dengan teknik modulasi memerlukan ketelitian alat yang tinggi. Sehingga disarankan untuk menggunakan optical bench yang khusus bagi interferometer 2 lengan, tanpa perlu melakukan set-up alat secara terpisah.

Ketersediaan

Informasi Detail

Judul Seri

No. Panggil

535.2 RAH p

Penerbit

Bandung : Unpar., 1998

Deskripsi Fisik

46 p. : il. ; 29 cm

Bahasa

Indonesia

ISBN/ISSN

-

Klasifikasi

535.2

Tipe Isi

-

Tipe Media

-

Tipe Pembawa

-

Edisi

-

Subjek

FISIKA-OPTIK

Info Detail Spesifik

-

Pernyataan Tanggungjawab

Monika Raharti

Versi lain/terkait

Lampiran Berkas

Komentar