Computer File

Diagram kendali-Q atribut

Kualitas suatu produk dapat dimonitor dengan sebuah alat yang dinamakan
dengan Statistical Process Control (SPC). Salah satu alat dalam Statistical
Process Control (SPC) yang dapat digunakan untuk memonitor proses produksi
selama proses berlangsung adalah diagram kendali. Diagram kendali mempunyai
fungsi untuk mendeteksi sinyal-sinyal yang menyebabkan suatu proses berada di
dalam kendali atau di luar kendali. Diagram kendali yang umum digunakan adalah
diagram kendali Shewhart, tetapi dalam membuat batas kendali diperlukan sampel
data yang banyak. Untuk mengatasi situasi ini ditawarkan suatu metode yang
dapat digunakan walaupun sampel data yang ada tidak besar, yaitu dengan
diagram kendali-Q. Pada skripsi ini, dibahas diagram kendali-Q untuk atribut.
Ada dua hal yang dibahas oleh penulis, yang pertama adalah membahas
rancangan diagram kendali-Q atribut dengan menggunakan parameter yang
ditaksir dan tidak ditaksir dengan 3 jenis distribusi. Pembahasan kedua adalah
kinerja diagram kendali-Q atribut terhadap pergeseran parameter proses produksi.
Diperoleh keunggulan dari diagram kendali-Q atribut, yaitu dapat digunakan
untuk sampel data yang sedikit, sedangkan kekurangannya sama dengan diagram
kendali Shewhart yaitu kurang efektif dalam mendeteksi pergeseran proses yang
kecil.

Ketersediaan

Informasi Detail

Judul Seri

No. Panggil

MATE KUR d/08

Penerbit

Bandung : Program Studi Matematika FMIPA - UNPAR., 2008

Deskripsi Fisik

x, 56 p. : il. ; 30 cm

Bahasa

Indonesia

ISBN/ISSN

-

Klasifikasi

MATE

Tipe Isi

-

Tipe Media

-

Tipe Pembawa

-

Edisi

-

Subjek

-

Info Detail Spesifik

649 - FTIS

Pernyataan Tanggungjawab

Ria Anggraeny Kurniawan

Versi lain/terkait

Lampiran Berkas

Komentar