A System model for feedback control and analysis of yield : A multistep process model of effective gate length, poly line width and IV parameters | PERPUSTAKAAN UNIVERSITAS KATOLIK PARAHYANGAN

Pencarian berdasarkan :

Pencarian terakhir:

Text

A System model for feedback control and analysis of yield : A multistep process model of effective gate length, poly line width and IV parameters

Rietman, E.A. - Nama Orang; Whitlock, S.A. - Nama Orang; Beachy, M. - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

Barcode		Tipe Koleksi	Nomor Panggil	Lokasi	Status
art3270	null	Artikel		Gdg9-Lt3	Tersedia namun tidak untuk dipinjamkan - No Loan

Informasi Detail

Judul Seri: IEEE Transactions on semiconductor manufacturing;Vol.14 No.1 February 2001
No. Panggil: -
Penerbit: : .,
Deskripsi Fisik: p.32-47
Bahasa: English
ISBN/ISSN: -
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: -
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: E.A. Rietman, S.A. Whitlock, M. Beachy

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar